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| 書誌情報 | ファイル |
|---|---|
| Structural and electronic characterization of (2,3(3)) bar-shaped stacking fault in 4H-SiC epitaxial layers Camarda, Massimo; Canino, Andrea; La Magna, Antonino; La Via, Francesco; Feng, G.; Kimoto, T.; Aoki, M.; Kawanowa, H. (2011-02) APPLIED PHYSICS LETTERS, 98(5) |  |
| Major deep levels with the same microstructures observed in n-type 4H-SiC and 6H-SiC Sasaki, S.; Kawahara, K.; Feng, G.; Alfieri, G.; Kimoto, T. (2011-01-01) JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 109(1) | |