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dc.contributor.advisor佐藤, 高史ja
dc.contributor.advisor小野寺, 秀俊ja
dc.contributor.advisor髙木, 直史ja
dc.contributor.authorAwano, Hiromitsuja
dc.contributor.alternative粟野, 皓光ja
dc.contributor.transcriptionアワノ, ヒロミツja
dc.date.accessioned2016-06-28T01:44:21Z-
dc.date.available2016-06-28T01:44:21Z-
dc.date.issued2016-03-23ja
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/215689-
dc.format.mimetypeapplication/pdfja
dc.language.isoengja
dc.publisher京都大学 (Kyoto University)ja
dc.publisher.alternative京都大学ja
dc.subject集積回路ja
dc.subject微細化ja
dc.subject信頼性ja
dc.subjectバイアス温度不安定性(BTI)ja
dc.subject歩留り解析ja
dc.subject.ndc007ja
dc.titleVariability in BTI-Induced Device Degradation: from Silicon Measurement to SRAM Yield Predictionja
dc.title.alternativeトランジスタのBTI劣化ばらつきに関する研究:特性評価からSRAM 回路歩留り予測へja
dc.typeDFAMja
dc.type.niitypeThesis or Dissertationja
dc.textversionETDja
dc.description.degreegrantorKyoto University (京都大学)ja
dc.description.degreeuniversitycode0048ja
dc.description.degreelevel新制・課程博士ja
dc.description.degreediscipline博士(情報学)ja
dc.description.degreereportnumber甲第19862号ja
dc.description.degreenumber情博第613号ja
dc.description.degreekucallnumber新制||情||106(附属図書館)ja
dc.description.degreeserialnumber32898ja
dc.date.granted2016-03-23ja
dc.description.degreeaffiliation京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻ja
dc.description.degreeexamcommittee(主査)教授 佐藤 高史, 教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史ja
dc.description.degreeprovision学位規則第4条第1項該当ja
dc.identifier.grantid14301甲第19862号ja
dc.identifier.selfDOI10.14989/doctor.k19862ja
Appears in Collections:Doctoral Dissertation (Informatics)

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