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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| yjohk00613.pdf | Abstract_要旨 | 188.67 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| djohk00613.pdf | Dissertation_全文 | 4.17 MB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | Variability in BTI-Induced Device Degradation: from Silicon Measurement to SRAM Yield Prediction |
| その他のタイトル: | トランジスタのBTI劣化ばらつきに関する研究：特性評価からSRAM 回路歩留り予測へ |
| 著者: | Awano, Hiromitsu |
| 著者名の別形: | 粟野, 皓光 |
| キーワード: | 集積回路 微細化 信頼性 バイアス温度不安定性（BTI） 歩留り解析 |
| 発行日: | 23-Mar-2016 |
| 出版者: | 京都大学 (Kyoto University) |
| 学位授与大学: | 京都大学 |
| 学位の種類: | 新制・課程博士 |
| 取得分野: | 博士(情報学) |
| 報告番号: | 甲第19862号 |
| 学位記番号: | 情博第613号 |
| 学位授与年月日: | 2016-03-23 |
| 請求記号: | 新制||情||106(附属図書館) |
| 整理番号: | 32898 |
| 研究科・専攻: | 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 |
| 論文調査委員: | (主査)教授 佐藤 高史, 教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史 |
| 学位授与の要件: | 学位規則第4条第1項該当 |
| DOI: | 10.14989/doctor.k19862 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/215689 |
| 出現コレクション: | 140 博士(情報学) |
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