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タイトル: <研究ノート>水素イオンビーム照射装置の開発とin situ物性測定
その他のタイトル: <Research Report>Development of Hydrogen Ion Beam Apparatus and in situ Physical Property Measurement
著者: 中山, 亮  KAKEN_name
著者名の別形: Nakayama, Ryo
発行日: Jun-2018
出版者: 京都大学物性科学センター
誌名: 京都大学物性科学センター : LTMセンター誌 = Low Temperature and Materials Sciences (Kyoto University)
巻: 32
開始ページ: 10
終了ページ: 16
抄録: Introduction of hydrogen can significantly alter the physical properties of materials. However, conventional methods of hydrogen introduction are limited to a few materials and need very long time to introduce a large amount of hydrogen. We have focused on a low-temperature hydrogen ion beam irradiation, which is, in principle, applicable to any material of interest. In this study, we have developed a new low-temperature hydrogen ion beam apparatus for in situ physical property measurement, and low-temperature irradiation effects on ZnO thin films were investigated for the first time.
URI: http://hdl.handle.net/2433/235597
関連リンク: http://www.ltm.kyoto-u.ac.jp/centershi/
出現コレクション:第32号

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