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LTM-32_10.pdf | 647.38 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
タイトル: | <研究ノート>水素イオンビーム照射装置の開発とin situ物性測定 |
その他のタイトル: | <Research Report>Development of Hydrogen Ion Beam Apparatus and in situ Physical Property Measurement |
著者: | 中山, 亮 ![]() |
著者名の別形: | Nakayama, Ryo |
発行日: | Jun-2018 |
出版者: | 京都大学環境安全保健機構 物性科学センター |
誌名: | 京都大学物性科学センター誌 : LTMセンター誌 |
巻: | 32 |
開始ページ: | 10 |
終了ページ: | 16 |
抄録: | Introduction of hydrogen can significantly alter the physical properties of materials. However, conventional methods of hydrogen introduction are limited to a few materials and need very long time to introduce a large amount of hydrogen. We have focused on a low-temperature hydrogen ion beam irradiation, which is, in principle, applicable to any material of interest. In this study, we have developed a new low-temperature hydrogen ion beam apparatus for in situ physical property measurement, and low-temperature irradiation effects on ZnO thin films were investigated for the first time. |
DOI: | 10.14989/235597 |
URI: | http://hdl.handle.net/2433/235597 |
関連リンク: | http://www.ltm.kyoto-u.ac.jp/centershi/ |
出現コレクション: | 第32号 |
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