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| 書誌情報 | ファイル |
|---|---|
| Efficient aging-aware SRAM failure probability calculation via particle filter-based importance sampling Awano, Hiromitsu; Hiromoto, Masayuki; Sato, Takashi (2016-07-01) IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E99.A: 1390-1399 |  |
| Hypersphere Sampling for Accelerating High-Dimension and Low-Failure Probability Circuit-Yield Analysis HAGIWARA, Shiho; DATE, Takanori; MASU, Kazuya; SATO, Takashi (2014-04-01) IEICE Transactions on Electronics, E97.C(4): 280-288 | |